當前位置：北京譜飛科技有限公司>>（美國）XOS>> X熒光分析薄膜200335-01
美國Chemplex XRF薄膜樣本支撐窗CAT. No.3014（美
X熒光分析薄膜200335-01
X熒光分析薄膜200335-01
美國*，用于X熒光分析儀的薄膜，透光率好，不會被油品腐蝕，同一樣品可重復進行多次X熒光分析測試，節省分析成本，一次一片，使用方便。
成卷的或預先切成方形或圓形的Prolene，超聚酯，聚丙烯，Mylar，聚碳酸脂和聚酰亞胺樣品支撐薄膜。
成卷的薄膜(7.6cm×15.2m）
正方形薄膜（63.5mm×63.5mm）
圓形薄膜（直徑63.5mm）
多孔聚丙烯薄膜（6.4cm×5.1m）
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
以上信息由企業自行提供，信息內容的真實性、準確性和合法性由相關企業負責，儀表網對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示：為規避購買風險，建議您在購買產品前務必確認供應商資質及產品質量。
儀表網