美國4D Technology公司成立于2002年，主要致力于為航天、天文、光學制造、半導體及數據存儲等領域開發高精度的檢測儀器。該公司的動態相移測量技術改變了傳統光學干涉儀器對使用環境的苛刻要求，大大拓寬了儀器的應用范圍。目前，4D Technology擁有一支在激光干涉測量、光學儀器、軟件開發、質量控制、技術支持方面的專業化團隊
美國4D Technology公司推出的動態激光干涉儀，采用新的瞬時相移干涉技術（SPSI），大大縮短了干涉測量時間，不僅能達到傳統相移干涉儀的精度和可靠性，而且無需普通干涉測量 的防振臺；適合于大口徑、長焦距光學元件的測量，可以應用于光學系統現場檢驗、復雜/惡劣環境的光學檢驗，并能進行連續的動態測量，甚至對光學表面的變化過程進行測量。4D Technology的產品一經推出，便在激光、空間光學、天文光學等領域得到了迅速的應用。
4DTechnology產品系列：
菲索型干涉儀 FizCam系列
口徑：100mm 到 800mm                      
包括F1500、F2000、F3000型
適合于平面、球面、凸球面的遠程測量
可使用標準菲索鏡頭
泰曼格林型干涉儀 PhaseCam系列
包括P4020、F5030型，及多波長
適合于長焦距測量，
鏡頭豐富，便于移動
可擴展用于真空或超快測量
WaveCam系列
用于DVD讀寫鏡頭、光纖光束質量
PhaseCamMW多波長干涉儀 
適合于復雜表面測量，如子鏡拼接表面等
ESPI電子散斑干涉儀
適合于非光學表面的形變測量