膜厚計

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最新產品\ NEW PRODUCT

膜厚監測和控制儀
膜厚監測和控制儀使用成熟的 INFICON 石英晶體傳感器技術在薄膜沉積過程中測量速率和厚度。兩個傳感器輸入為標準輸入，另外四個傳感器輸入為可選輸入。兩個錄像機輸出可提供模擬速率和厚度信號。
KETT膜厚計L500科學研究所
KETT膜厚計L500科學研究所LH-373渦流膜厚計
膜厚計L500，探釷EP-100，HP-100，電磁式膜厚計LE-373，渦流膜厚計LH-373，雙聯式膜厚計Z-373，雙重型膜厚計LZ990
簡易經濟型膜厚計美國DEF
Positest DFT-F簡易經濟型膜厚計美國DEFELSKO
品牌：美國DEFELSKO
型號：Positest DFT-F
名稱：簡易經濟型膜厚計
功能：測量涂層的厚度
顯微分光膜厚儀
顯微分光膜厚儀，使用顯微光譜法在微小區域內通過絕對反射率進行測量，可進行高精度膜厚度/光學常數分析。
鍍層膜厚儀原理
鍍層膜厚儀原理而且天瑞儀器更是從美國采購了全套的電鍍鍍層標樣，能夠滿足電鍍和表面處理廠家幾乎所有的鍍層厚度的測量。同時儀器還可以分析電鍍液及鍍層成分的分析
臺式鍍層膜厚儀
采購鍍層膜厚儀而且天瑞儀器更是從美國采購了全套的電鍍鍍層標樣，能夠滿足電鍍和表面處理廠家幾乎所有的鍍層厚度的測量。同時儀器還可以分析電鍍液及鍍層成分的分析
膜厚計
日本KETT涂層測厚儀小巧、實用，用于無損、快速、精確的測量涂層、鍍層厚度。
銷售AsahiSpectra朝日分光
銷售AsahiSpectra朝日分光、光學式膜厚計
在測量的wafer或glass上面的薄膜上垂直照射可視光，這時光的一部分在膜的表面反射，另一部分透進薄膜，然后在膜與底層（wafer或glass）之間的界面反射。
復合膜厚度檢測儀金屬片
復合膜厚度檢測儀金屬片厚度測量儀膜厚計采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規范性和準確性。專業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
膜厚儀膜厚計
Thick800A膜厚儀是天瑞集多年X射線儀器設計的經驗，專門研發用于電鍍及表面處理行業的一款精密儀器，可全自動軟件操作，可多點測試，由軟件控制儀器的測試點，以及移動平臺。是一款功能強大的儀器，配上專門為其開發的軟件，在電鍍鍍層檢測行業中可謂大展身手。