產品系列
晶體管圖示儀
半導體分立器件測試篩選系統
靜態參數測試(包括IGEs/VGE(th)/VCEsat/VF/ICEs/VCEs等)
動態參數測試(包括Turn_ON&OFF_L/Qrr_FRD/Qg/Rg/UIS/SC/RBSOA等)
環境老化測試(包括 HTRB/HTGB/H3TRB/Surge等)
熱特性測試(包括 PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等)
可測試 Si/SiC/GaN 材料的IGBTs/MOSFETs/DIODEs/BJTs/SCRs等功率器件
歡迎垂詢:Tel:173 -4295 -2894
美國 ITC替代品 大功率IGBT靜態測試系統
(ENJ3020 IGBT靜態參數測試系統)
一、大功率IGBT靜態測試系統概述
ENJ—3020測試系統(以下簡稱系統)是西安天光測控技術有限公司推出的IGBT靜態測試系統,該系統符合國家標GJB128-86和國家標準GB/T 4587-94測試規范。
系統適合工廠、研究所用做IGBT及其模塊的篩選、檢驗、分析以及器件生產廠用做生產測試,是一款針對IGBT的各種靜態參數而研制的智能測試系統。
系統標準功率源為3500V/200A,電流可擴展至2000A。
系統的自動化程度高,按照操作人員設定的程序自動工作,實現全自動化的智能測試,計算機記錄測試結果,測試結果可轉化為文本或 EXCEL 格式存儲。測試方法靈活,可*測試器件以及單個單元和多單元的模塊測試。
系統采用品牌工控機,具有抗電磁*力強,排風量大等特點
系統安全穩定,PLC 對設備的工作狀態進行全程實時監控并與硬件進行互鎖。
天光測控ENJ—3020測試系統中控制系統主要由計算機控制系統和PLC控制系統組成
計算機控制系統
計算機控制系統是該測試設備的中心控制單元,設備有一部分的工作程序、工作時序、開關的動作狀態,數據采集等均由計算機完成。計算機
采用研華工業控制機,具有抗電磁*力強,排風量大等特點。
計算機中,裝有美國國家儀器公司生產的數據采集卡NI PCI6221卡2塊,NI PCI6221是一塊多功能的數據采集卡,具有三組數據端口,16/8個
模擬量輸入端口,兩個模擬量輸出口、兩個定時器計數器。
PLC控制系統
控制系統除工控機外,還采用了歐姆龍系列的PLC,PLC主要對設備的工作時序、開關動作等進行控制,并且與計算機進行通訊,完成了整個系
統的自動控制功能;PLC不僅控制開關的動作,而且對系統中主要開關的工作狀態進行實時監控,并與硬件進行互鎖,實現了可靠的安全控制功能。
系統特征
針對IGBT的各種靜態參數而研制的智能測試系統
大功率(IV可擴展至4500A,6000V)
自動化程度高(按照操作人員設定的程序自動工作)
計算機記錄測試結果,測試結果可轉化文本或EXECL格式存儲
采用品牌工控機,具有抗電磁*力強,排風量大等特點
測試方法靈活(可*測試器件以及單個和多單元的模塊測試)
安全穩定(PLC對設備的工作狀態進行全程實時監測并與硬件進行互鎖)
二、大功率IGBT靜態測試系統測試范圍
天光測控ENJ—3020系統是專為測試IGBT而設計。能夠真實準確測試出IGBT的各種靜態參數:其測試范圍如下:
1)柵極-發射極漏電流測試VGES、IGES
2)柵極-發射極閾值電壓測試Vge(th)
3)集電極-發射極電壓測試測試VCES、ICES
4)集電極-發射極飽和電壓測試測試Vge(sat)、IC
5)二極管壓降測試測試VF、IF
6)二極管反向可恢復直流電壓測試VR、IR
外形尺寸和電源要求
尺 寸:800×800×1800(mm)
質 量:210kg
環境溫度:15~40℃
工作電壓:AC220V±10%無嚴重諧波
電網頻率:50Hz±1Hz
通信接口: USB RS232
系統功耗: 380W
參數/條件
參數/條件 | ||||||
參 數 | ENJ 35200 IGBT | ENJ 30200 IGBT | ||||
靜態參數自動測試系統 | 靜態參數手動測試系統 | |||||
條 件 | ||||||
①柵極-發射極漏電流IGES | ||||||
IGES: 0.1-10uA±3%±0.1uA | ||||||
集電極電壓VCE: 0V | ||||||
柵 極 電 壓 VGE: 20V ±3%±0.2V | ||||||
②集電極-發射極電壓BVCES | ||||||
集電極電壓VCES: 100-3500V±5%±10V(選配) | ||||||
集電極電流ICES: 0.1-30mA±5%±0.01mA | 100-3500V±5%±10V | 100-3000V±5%±10V | ||||
柵 極 電 壓 VGE: 0V | ||||||
③集電極發射極飽和電壓VCESAT | ||||||
VCESAT:0.1-10V | ||||||
柵極電壓 V G E : ±15V±2%±0.2V | ||||||
集電極電流ICE: 10-200A±5%(選配) | 10-200A±5% | 10-200A±5% | ||||
④集電極-發射極截止電流ICES | ||||||
集電極電流ICES: 0.1-30mA±5%±0.01mA | 100-3500V±5% | 100-3000V±5% | ||||
集電極電壓VCE: 100-3500V±5%(選配) | ||||||
柵 極 電 壓V G E : 0V | ||||||
⑤柵極-發射極閥值電壓測試VGETH | ||||||
VGETH: 0.1-10V±3%±0.1V | ||||||
VGE=VCE | ||||||
集電極電流ICE: 30mA±3% | ||||||
⑥二極管壓降測試VF | ||||||
VF: 0.1-5V±3%±0.01V | ||||||
柵極電壓VGE: 0V | ||||||
電 | 流 I F : 10-200A±5%(選配) | 10-200A±5% | 10-200A±5% | |||
導通電流 IC: 10-200A±5% | ||||||
柵極電壓VGE:±15V±0.2V |
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