ST-Thermal_Zth(ja/jc)   半導體檢測瞬態熱阻抗測試儀

可測試 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等器件的熱特性

包括 功率循環

·秒級&分鐘級/Pcsec&PCmin，被動循環/TC，熱阻（抗）/Rth/Zth，K曲線/Kcurve

?電路原理簡圖

     說明： Qf為總進線保護斷路器，電源電壓經過電壓調節到主功率變壓器，由主功率變壓器到整流和濾波單元，產生大功率直流電源。再由電子開關施加到被測單元。圖中二極管為隔離二極管，熱敏電流單元提供足夠大的熱敏電流。觸發單元施加規定的觸發電壓，處于導通狀態。工控機和PLC智能系統保證設備的正常工作時序和操作人員安全。冷卻系統和氣路系統保證設備的可靠運行
半導體檢測瞬態熱阻抗測試儀
?產品特點
? *的DUT適配器（針對不同封裝外觀的器件及模塊，提供的適配連接裝置）；

? 系統具有過流、過熱、水壓不足等保護功能。具有連續工作的特點;

? 測試程序由計算機控制，按設定的程序進行自動測試，且系統采用內控和外控兩種方式，便于工作人員操作；

? 脫機狀態時，面板顯示每個工位的殼溫，試驗電流、試驗次數、加熱時間、冷卻時間等；

? 器件保護：被測器件及模塊的特性變化超過限值后自動停止測試；

? 安全穩定（PLC 對設備的工作狀態進行全程實時監控并與硬件進行互鎖）；

? 智能化，通過主控計算機進行操控及數據編輯，測試結果自動保存及上傳局域網；

? 安全防護：系統具有防爆、防觸電、防燙傷、煙霧、漏液等多重保護，結合遠程測試能力確保操作人員安全。

? 配有漏電保護器及空氣開關，對短路、過載及漏電等情況進行保護，設計符合CE認證；

歡迎垂詢：Tel:173 -4295 -2894

?技術規格

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