icpTOF電感耦合等離子體-飛行時間質譜耦合了Thermo Scientific公司的 iCAP RQ平臺（包含離子源和真空接口）和TOFWERK高性能飛行時間質譜分析儀。iCAP RQ平臺提供了多類型的樣品進樣方式，高強度并穩固的ICP，更加簡單的椎體和離子電鏡維護程序和Q-cell科技。飛行時間質譜分析儀在保證跟四級管（QMS）同等靈敏度的同時，為icpTOF增加了快速全譜分析，更寬的線性動態范圍和高達6000的質量分辨率。鑒于其快速全譜圖采集和所有元素同位素的同步分析，icpTOF是單顆粒多元素分析和快速激光蝕刻成像的理想檢測器。
All the elements. All the time. icpTOF記錄全譜圖以提供回溯分析,因此 您不會錯過任何分析物或干擾信號。
高質量分辨率 icpTOF 2R高達6000的質量分辨率讓排除干擾離子更加容易。
精確的同位素比率 icpTOF可同時測量所有同位素,從而上消除離子源和進樣過程擾動對測量結果的影響。分析精度趨近于統計限制。
高速檢測 icpTOF每隔30微秒就可記錄一張全譜圖,使其成為快速瞬態信號(如單個納米顆粒,流體包裹體和單激光脈沖燒蝕)的檢測器。
icpTOF R, icpTOF 2R, 和icpTOF S2 型號規格一覽
icpTOF R， icpTOF 2R和icpTOF S2 在Thermo Scientific公司的 iCAP RQ平臺（包含離子源和真空接口）上耦合了TOFWERK高性能飛行時間質譜分析儀。這三種型號性能各有千秋，適用于您的多種應用需求。icpTOF 2R搭配一款更長的飛行時間質譜模塊，提供高達6000的質量分辨率，是對同標稱質量的離子分離要求較高的分析案例的理想選擇。S2型號的超高靈敏度可以提升生物樣品成像的空間分辨率，同時也可以在分析細小顆粒物時有更好的信噪比。
增長的離子飛行時間帶來更好的質量分辨能力
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這兩款icpTOF都配備了支持Q-cell碰撞/反應技術的iCAP RQ平臺（藍色），有效降低復雜基底可能帶來的干擾
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icpTOF 2R搭配的飛行時間模塊（黃色）長度是icpTOF的兩倍，大大提升了儀器的質量分辨能力
‘陷波’技術有效衰減等離子體和樣品基底相關的離子強度
鉿含量較高的’Plesovice’鋯石的激光脈沖燒蝕實驗信號。‘陷波’技術用來將28 -硅, 40 -氬氣等離子體, 90 -鋯石和 179 -鉿等信號控制在10mV以下。
