JCM-7000臺式掃描電子顯微鏡是日本電子新推出的一款臺式掃描電子顯微鏡，其不僅具有大型掃描電鏡的功能，相對于大型掃描電鏡其操作簡單，維護保養容易，體積小巧，價格低廉，檢測速度快，從啟動裝填樣品到測試出結果僅需5分鐘左右。JCM-7000還創新的加入了實時能譜分析和實時3D顯示的功能，更人性化的服務于您的研究和工作。
JCM-7000主要功能：
◆ 在同一個視野上可以從光學圖像無縫過渡到（SEM）圖像
◆ 邊觀察邊進行元素分析
◆ 通過自動功能使圖像從低倍率到高倍率變得更容易
◆ 低真空 (LV) 模式可以用來直接觀測不導電的樣品
◆ 高真空 (HV) 模式可以進行高倍率詳細形貌的觀察
◆ 在同一視野上可以實時顯示3D圖像 (Live 3D)
◆ 自動布局且可以一鍵輸出結果（SMILE VIEW TM Lab)
以下介紹幾個典型實例方便您對我們這款產品的深入了解：
上圖測試的樣品是巖鹽，JCM-7000可以由光學成像實時自動無縫過渡到SEM成像。
上圖測試的樣品是合金，JCM-7000通過高靈敏度探測器既可以實現實時顯示視野范圍中的主要組成元素，又能實時顯示各種元素的面分布情況。
上圖測試的樣品是螺絲，JCM-7000采用新型高靈敏度4分割背散射電子探測器，利用實時3D功能，實現了四種掃描電鏡（成分、凹凸、陰影）圖像和三維圖像的采集和顯示，由圖可以清晰看出螺絲的凹凸紋理。
上圖測試的樣品是不銹鋼 SUS304斷裂面，JCM-7000利用高真空模式和SEM圖像觀察，可以進行更精確的觀察，如圖所示在高真空條件下可以清晰的觀察條紋和韌窩的解理面，由此推斷其斷裂成因。
上圖測試的樣品是玻璃，由圖可以看出透明樣品斷面在光學顯微鏡下很難觀察形貌，在低真空下，相同放大倍數的SEM成像可以呈現清晰的表面形貌，放大后可清晰的觀察細節SEM成像。
