雙光束紫外可見分光光度計OPTIZEN™ Alpha OPTIZEN Alpha在紫外和可見光范圍中測量樣品的各波長透射比或者吸光度來了解濃度或者純度等定量特征。該產品不僅可以用于一般分析實驗, 還可以用于專門的研究領域, 并保證精確的測量和出色的重現性, 因此可被廣泛應用于環境, 生物技術, 化學等各個領域并提供可靠的實驗結果。
主要特征：
-內置多聯比色皿支架可自動測量更多樣品
-英特爾®賽揚®四核處理器N3160
-提供32GB存儲容量
-支持便捷的語音提示和音量控制
-多種比色皿兼容性和快速的比色皿類型選擇
-可用USB導出數據
產品參數：
| 光度系統 | 雙光束類型 |
| 光源 | 鎢鹵素燈和氘燈 |
| (內置光源自動更換電機) | |
| 檢測器 | 硅光電二極管 |
| 光譜帶寬 | 1 nm (190 - 1100 nm) |
| 波長范圍 | 190 - 1100 nm |
| 波長顯示 (設置) | 0.05 nm |
| 波長準確度 | About 8,800 nm/min |
| Scan Speed | ± 0.3 nm (全范圍) |
| ± 0.1 nm (656.1 nm) | |
| 波長重復性 | < ± 0.1 nm |
| 波長移動速度 | 約45,000 nm/min |
| 掃描速度 | 限度6,000 nm/min |
| 光度范圍 | 吸收率: -4 A - 4 A |
| 透射比: 0% - 400% | |
| 光度準確度 | 少于 ± 0.005 A at 1.0 A |
| 光度重復性 | ± 0.0002 at 0.5 A |
| ± 0.0006 at 1.0 A | |
| ± 0.001 at 2.0 A | |
| 漂移穩定性 | < 0.0003 A/h |
| 基線平直度 | < ± 0.0005 A |
| 雜散光 | < 0.02% Nal at 220 nm, NaNO2 at 340 nm |
| 單色器 | Czerny-Turner type with 1200 lines/nm blazed grating |
| 標準比色皿支架 | 全自動8聯池比色皿支架 |
| 操作系統(OS) | Windows® 10 (內置PC) |
| 顯示 | 8 英寸彩色LCD 觸屏 |
| 控制選項 | 內置觸屏, 電腦 |
| 外觀尺寸(W*D*H) | 520 mm*500 mm*200 mm |
| 電壓 | 100 - 240 V; 50 - 60 Hz |
| 重量 | 14 kg |
| PC軟件 | (可選) OPTIZEN View for Windows® |
產品詳情：
現有的單光束分光光度計在測量空白樣品與實驗樣品時存在時間差異, 因光源隨著時間發生變動, 因此會在樣品的測量上出現誤差。為解決該問題, OPTIZEN Alpha被設計為雙光束型分光光度計。該系統利用雙光束通過補償其光源的強度波動來改善測量性能。
產品信息：
-提供自檢功能
-可以在收藏夾中登錄和調用正在測量或已完成的信息
-通過OPTIZEN VIEW(PC 軟件)可與PC連接
-可檢查設備的工作時間, 燈的預熱狀態和累計使用時間
-通過登錄功能強化測量數據的安全性
