紫外可見分光光度計OPTIZEN™ Alphalook PDA 紫外可見分光光度計使用簡單而精確的光學系統在短時間內掃描從紫外線到可見光的無線電場, 并檢查波長數據的結果。 此外, 由于與各種配件兼容, 因此可以通過簡單的操作方便地測量復雜樣品和大量樣品。
主要特征：
-便利的操作界面
-基于Windows的臺式PC軟件支持
-氙燈
-可使用測量光譜的簡易標準曲線, 及通過用戶想使用的畫面來創建數據表
-高分辨率帶來更加清晰的畫面。(支持高分辨率2560*1600)
產品參數：
| 光度系統 | 單光束類型 |
| 光源 | 氙燈 |
| 檢測器 | 光電二極管陣列 |
| 光譜帶寬 | 1.0 nm (190 - 1100 nm) |
| 波長范圍 | 190 - 1100 nm |
| 波長顯示 (設置) | 0.1 nm |
| 波長準確度 | < ± 0.5 nm |
| 波長重復性 | < ± 0.1 nm |
| 測量時間 | 最小1 s (全波長范圍) |
| 光度準確度 | < ± 0.005 A (NIST 930E 濾波器), < ± 0.01 A (重鉻酸鉀) |
| 光度噪聲 | < 0.0005 A (at 500 nm) |
| 漂移穩定性(RMS) | < 0.001 A/h |
| 標準比色皿支架 | 單個比色皿 |
| 操作系統 (OS) | Windows® |
| 外觀尺寸(W*D*H) | 587 mm*315 mm*203 mm |
| 其它端口 | 乙太網路 |
| 電壓 | 90 - 264 VAC, 47 - 63 Hz |
| 重量 | 14.52 kg |
產品詳情：
OPTIZEN Alphalook 是可以利用光電二極管陣列一次性實時測量紫外、可見(190 nm~ 1100 nm) 光的波長的分光光度計。測量全波長范圍所需的時間是2秒左右, 適合用于波長的反復分析或是光譜動態特性的確認以及多種波長范圍中的定量分析。還可以通過外面的一鍵式按鈕來測量樣品, 可以與安卓平板電腦和Windows電腦兼容。
產品信息：
-利用外部按鍵簡單快速進行測量
-防止異物損壞高精密光學配件的石英鍍膜處理
-利用手動螺絲, 方便更換比色皿支架
-在電源不穩定的情況下無需單獨的變壓器或穩壓器即可運行
-分析的資料可轉換PDF和EXCEL
-提供更清晰的高分辨率屏幕
-使用氙氣閃光燈作為燈源, 無需更換燈就可以半性使用
-實時測量所有區域的頻譜
