1、界面一目了然、操作簡單。
2、三點定圓確定濾紙大小
軟件采用三點定圓的算法,確定濾紙的直徑和掃描范圍。
3、全自動掃描，圖像拼接、手動聚焦
快速、高效、精準的濾膜圖像自動掃描和拼接（如果用體式顯微鏡方案，速度大約2分鐘）。可定點
移動到視場或顆粒位置進行觀察，可用鼠標滾輪調節焦距。
（平臺控制界面）
（拼接后的圖像）
4、自動搜出金屬、非金屬顆粒以及纖維
（1）明場/暗場分析模式：
對明場圖像進行金屬顆粒分析，對暗場圖像（分析時，需加裝偏光裝置）進行非金屬顆粒分析，最后進行顆粒數據統計，分析精確度高。
l 先載入明場模式下的圖像進行金屬顆粒分析。
（明場下標記可能是金屬的顆粒）
l 再載入暗場模式下的圖像進行非金屬顆粒分析
（暗場下標記可能是非金屬的顆粒）
l 最后進行顆粒數據統計：軟件自動整合明場和暗場下的分析結果進行顆粒數據統計
（金屬與非金屬顆粒分析結果）
（2）明場分析模式：
只對明場圖像進行金屬非金屬分析，最后進行顆粒數據統計，分析精確度相對來說較低，但分析速度快。
l 載入明場圖像，進行金屬顆粒分析
l 再在該圖像下，進行非金屬顆粒分析
l 最后進行顆粒數據統計：軟件自動整合明場下的金屬顆粒和非金屬分析結果進行顆粒數據統計
（金屬與非金屬顆粒分析結果）
注：只有進行顆粒統計分析后，才能精確分析出該顆粒是否是金屬或者非金屬顆粒。
5、支持ISO16232、IS04406/4407、GBT14039、GB/T20082-2006及自定義標準
（GBT14039）
（ISO4406/4407）
（ISO 16232）
（GB/T 20082-2006）
（自定義標準）
6、輸出圖文檢測報告
系統配置清單
NO | 項目 | 技術參數 |
1-1 | 正置金相顯微鏡（2選1） | 型號：CIA-500 鏡頭：2倍，5倍，10倍（物鏡數量3個） 偏光裝置：可選 |
1-2 | 體式顯微鏡 （2選1） | 型號：CIA-100 連續變倍體式顯微鏡； 放大倍數范圍0.7-4.5，通過旋鈕進行變倍調節； 偏光裝置：可選 |
2 | 電動載物臺 | 平臺行程： 70*70（單位mm） 螺桿導程：2000μm 重復定位精度：±5μm以內 16細分下的分辨率：單步0.625μm 步進電機步距角：1.8° 額定工作電流：單軸1.0A（24V電源供電） 負載：≥5kg 往返間隙：5微米 |
3 | 驅動控制箱 | 長*寬*高：307*260*105（單位：毫米） 觸摸屏：實時顯示數據以及觸控操作 采用通用232串口與PC機進行通信（115200波特率） 串口控制，能設置電機的移動速度，移動距離，移動方向 |
4 | 攝像頭 | 300萬或500萬數字攝像頭 |
5 | 軟件 | 清潔度圖像分析軟件 |
6 | 電腦（選配） | 推薦配置：WIN7操作系統，4核CPU，4G內存。 |
1、實物圖像
l 正置金相顯微鏡方案：
l 體式顯微鏡方案：
l 平臺特寫：
l 控制器：
l 濾膜：
