產品關鍵詞：熒光量子產率PLQY檢測系統、光致熒光量子產率測試系統、光致發光與發光量子產率、量子產率測量儀、PL 量子產率光譜儀、光致發光量子產率測試方案、熒光量子產率測試方案、發光量子效率測試系統
Keywords: Fluorescence quantum yield PLQY test system, photoluminescence quantum yield test system, photoluminescence and luminescence quantum yield, absolute quantum yield measuring instrument, absolute PL quantum yield spectrometer, photoluminescence quantum yield test scheme, absolute fluorescence quantum Yield test scheme, luminescence quantum efficiency test system
產品簡介
HiYield-PL光致發光特性測量系統是東譜科技HiOE綜合發光特性測量平臺中的重要成員，與東譜科技的電致發光特性測量系統 HiYield-EL（請垂詢銷售專員）共同為行業提供了完善的發光樣品測量方案。HiYield-PL 系統由一系列相應的測量組件組成，包括激發光源、單色儀、光譜測量模塊等。利用該系統組件的分布特性，可以靈活搭建適用于不同類型樣品的測量系統，也可以適應豐富的測量場景，如手套箱測量等。HiYield-PL測量系統具備以下主要功能:1）采用PL法，結合積分球，準確測量發光樣品的效率參數、輻射度參數、色度參數等；2）高靈敏度、高動態范圍、高信噪比的測量；3）多種測量模式可供選擇：單激發波長量子效率、激發波長依賴量子效率、量子效率穩定性測試；4）全自動一鍵測試。
系統特點
□ 靈活的模塊化設計，可以適合各種測量場景；
□ 專業的研究級算法加持，精準得到PLQY數據；
□ 整機緊湊，可置于手套箱進行氮氣氛圍測試；
□ 可選配自動進樣系統，減少人為操作失誤，提高測量重復性；
□ 軟件全自動流程化操作，一鍵測量所有參數；
功能模塊
光致發光量子效率測量系統系統 | ||
型號 | HiYield-PL | |
規格配置 | 參數 | |
激發光模塊（氙燈） | 光源：150W 氙燈 | |
激發波長范圍：250 - 700 nm | ||
光學帶寬：2 nm - 5 nm | ||
穩定性：3% | ||
激發波長電動控制 | ||
狹縫電動控制 | ||
快門電動控制 | ||
激發光模塊 （LED） | 激發波長：365 nm、405 nm、450 nm、520 nm、635 nm等 | |
功率調節范圍：0-100 | ||
激發功率：3.5 mW@365 nm, 5 mW@405 nm, 2.5 mW@450 nm | ||
穩定性： | ||
光譜測試模塊 | 波長范圍：350-1100 nm；900-1700nm可選 | |
信噪比：1000：1 | ||
積分時間：3.8 ms – 10 s | ||
動態范圍：3.4 x 106 (system); 1300:1 for a single acquisition | ||
雜散光：<0.05% @ 600 nm; <0.10% @ 435 nm | ||
光學分辨率：~2.5 nm(FWHM) | ||
測試功能及參數 | 測量模式 | 單激發波長量子效率 |
激發波長依賴量子效率 | ||
量子效率穩定性測試 | ||
功能參數 類別 | 效率參數：發光量子效率（PLQY）、內量子效率（IQE）、激發波長依賴量子效率、藍光吸收比、衰減比率。 | |
輻射度學：光譜功率分布（λ）、輻射通量（Radiance）、光子數（Photons）、光通量（Lumen）、光視效能（K-value）、峰值波長（Peak Wavelength）、中心波長（Central Wavelength）等。 | ||
色度學：CIE色度坐標、相關色溫（CCT）、MK-1（mred）、顯色指數（CRI）、RGB顏色值等。 | ||
其它參數 | 積分球尺寸 | 1.5，3.3，5，6 inch等 |
積分球內涂層 | BaSO4、PTFE、Spectraflect、Spectralon等 | |
光纖芯徑 | 200μm, 600μm, 1000 μm | |
夾具 | 根據客戶樣品尺寸定制：比色皿夾具、薄片夾具、粉末載體等專用夾具。 | |
0.5%產品應用
□ 有機金屬復合物、熒光探針、染料敏化型PV材料、OLED材料、LED熒光粉、薄膜、粉末、液體等類型的光致發光樣品。
量子點發光二極管等
