中圖儀器CEM3000系列高分辨掃描電子顯微鏡用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析。空間分辨率出色和易用性強，用戶能夠非常快捷地進行各項操作。甚至在自動程序的幫助下，無需過多人工調(diào)節(jié)，便可一鍵得到理想的拍攝圖片。

CEM3000系列上還運用了快速抽放氣設計，讓用戶在使用時不再等待，且全系列可選配低真空系統(tǒng)，以便精準調(diào)節(jié)樣品倉內(nèi)真空度，滿足不同樣品的觀測需求。

產(chǎn)品功能

1.高分辨率，滿足用戶觀測需求；

2.快速抽放氣，縮短等待時間；

3.高易用性

可快速成像，一鍵成片；

4.多種成像參數(shù)

滿足專業(yè)用戶的調(diào)節(jié)需求；

5.高抗振防磁性能

強抗干擾能力；

6.可選配低真空模式，保證用戶能夠根據(jù)需要設定電鏡樣品倉內(nèi)真空度，進而對不同類型的樣品進行觀測。

7.大樣品倉

SEM3000A在保證較小外形尺寸同時，具有比肩立式電鏡的大倉室，從而容納更大尺寸樣品；

8.多探測器

可實現(xiàn)四分窗同時掃描成像。

核心優(yōu)勢

1、緊湊靈活，突破空間限制

（1）臺式設計，體積小巧，輕松擺放在桌面或狹小空間（如手套箱、移動實驗室），節(jié)省實驗室空間。

（2）支持快速移機，一臺設備滿足多場景需求，助力科研效率提升。

2、高性能，納米級分辨率

（1）空間分辨率優(yōu)于4nm（SE），支持高達200,000倍放大，精準捕捉納米材料、微流控芯片等樣品的微觀形貌。

（2）高襯度成像系統(tǒng)，快速掃描也能清晰呈現(xiàn)微弱信號，滿足材料科學、生命科學等領域的需求。

3、抗振防磁，穩(wěn)定無懼挑戰(zhàn)

（1）特殊隔振設計（CEM3000B搭載復合抗振系統(tǒng)），消除環(huán)境振動與電磁干擾，保障高倍成像質(zhì)量。

（2）適用于工業(yè)車間、車載實驗室等復雜環(huán)境，穩(wěn)定可靠。

4、高效便捷，一鍵智能操作

（1）快速抽放氣技術：低真空模式僅需40秒（CEM3000B），高真空模式最快1.5分鐘，大幅縮短等待時間。

（2）自動對焦、消像散、圖像增強功能，一鍵生成高質(zhì)量圖片，降低操作門檻。

5、靈活拓展，滿足多樣需求

（1）可選配低真空系統(tǒng)（5~100Pa），兼容導電/非導電樣品觀測。

（2）支持二次電子、背散射電子探頭及能譜儀，搭配顆粒統(tǒng)計、孔隙率測量等定制功能，滿足多領域分析需求。

中圖儀器的CEM3000系列高分辨掃描電子顯微鏡，不僅擁有強大的抗振性能和高效的工業(yè)應用能力，而且操作靈活和成像質(zhì)量可靠，在現(xiàn)代制造業(yè)中為用戶帶來突破性的檢測解決方案，助力工業(yè)的騰飛。

機型選擇

CEM3000A（大樣品倉型）：70mm×70mm樣品倉，兼容大尺寸或多樣品批量分析。

CEM3000B（抗振型）：專為振動環(huán)境設計，抽氣更快（低真空僅40秒），成像更穩(wěn)定。

應用場景

材料科學：納米材料（如60nm銀線）、高熵合金粉末、氧化鋅等微觀結構分析。

新能源：太陽能電池板缺陷檢測、涂層性能評估。

生物醫(yī)療：微流控芯片表面形貌觀測、藥物載體研究。

工業(yè)質(zhì)檢：錫球顆粒焊接質(zhì)量、精密器件表面粗糙度檢測。

部分技術指標

如有疑問或需要更多詳細信息，請隨時聯(lián)系中圖儀器咨詢。