一、產品概述
ACM483T-A 精密露點儀是基于光學冷鏡式原理設計,對溫濕度直接進行測量的設備。區別于通過電容電阻變化等方式間接測量濕度的方法,使用光學冷鏡式原理的露點儀是按照露點定義直接對環境進行濕度測量的。濕度測量的原理可分為冷鏡式、吸收電解式、薄膜電容式、電阻式、干濕球和機械式。吸收電解式微水分露點儀一般用于低濕范圍測量;電阻式、干濕球和機械式濕度計通常用于相對濕度的測量;而冷鏡式露點儀、薄膜電容式濕度計則不僅能用于低濕的測量,還能用于中高濕度測量。冷鏡式原理是屬于直接測量,而薄膜電容屬于間接測量。間接測量更容易受到環境因素干擾,而冷鏡式露點儀能夠更準確、更可靠地直接測量濕度,所以冷鏡式露點儀被廣泛地用于標準傳遞。本露點儀的結露鏡面經過特殊的半導體工藝處理,具有耐腐蝕、耐高低溫等特性,且露點和溫度是采用精密鉑電阻進行測量,因而 ACM483T-A 具有長期穩定可靠、測量精度高等特性。本露點儀既能在多數應用環境中使用并能確保高測量精度,還能滿足部分惡劣環境需求。本露點儀采用 4 寸多彩電容觸控屏界面顯示,其友好的人機交互界面,操控簡單容易上手。用戶可直接觀察所需的參數數據和隨時間的變化曲線圖。本露點儀提供多種參數轉換適用于不同需求場合。綜上所述,ACM483T-A 精密露點儀具有精度高、穩定性、重復性好、使用壽命長和操作界面簡潔等特點。
二、產品亮點
1.直接測量溫度、露點
2.多參數計算:濕度、濕度、ppm(V)等
3.可 USB 供電、分體式探頭,適用場景廣
4.同時顯示 3 組參數,以及參數值和最小值
5.探頭集成精密電路,重復性好,分辨率高,長期穩定
6.觸控彩屏、參數曲線可視化、帶測量修正
7.觸摸屏可實現簡便的操作和設置
8.Modbus RTU、USB 通信、PC 端軟件
三、技術參數
l 露點/霜點測量指標:N/A
l 測量范圍:-40~+90℃dp
l 精度:±0.15℃dp(校準范圍:-15℃~+20℃dp)
l 分辨力:0.01℃
l 重復性:±0.05℃
l 溫度測量指標:N/A
l 測量范圍:-40~+100℃
l 精度:±0.05℃(校準范圍-10~+60℃)
l 分辨力:0.01℃
l 重復性:±0.05℃
四、應用范圍
光學冷鏡式露點儀是按照露點定義對露點進行直接測量的儀器。光學冷鏡式露點儀的結露鏡面經過特殊的半導體工藝處理后,結露鏡面具有穩定、耐用、耐弱酸堿腐蝕等特點。光學冷鏡式露點儀還使用了高精度且穩定的鉑電阻測量溫度。因此該光學冷鏡式露點儀具備長期穩定、無漂移、一定的耐腐蝕、高測量精度和測量范圍廣等特點。在國際上普遍將光學冷鏡式露點儀作為測量濕度/露點的參照標準。在計量檢測行業,因冷鏡式精密露點儀具備高測量精度和測量范圍廣等特點,常被用于對濕敏材料類電阻電容等各類溫濕度傳感器進行校準和檢測。食品醫藥生產中,存在高溫高濕消毒,去除多余水分等工藝環境。濕敏電阻、電容在此類工藝環境中容易出現偏移,壽命縮短等問題,而光學冷鏡式露點儀可以在此類環境下長期穩定、無漂移的完成測量工作。高校、科研院所等實驗室中,通常要求較高的測量精度,并具有多種化學試驗物質存在,而這些化學物質大部分會對一般傳感器有不良影響。普通濕敏材料類傳感器在各種化學物質環境下容易被腐蝕損傷產生漂移甚至失效,光學冷鏡式露點儀則具有一定的耐腐蝕性,能提供可靠測量數據。在電力電子行業,高壓絕緣是非常關鍵的工況條件,而六氟化硫(SF6)是高壓電力行業普遍使用的絕緣氣體。SF6氣體含水量超標容易使 SF6氣體分解成有毒有腐蝕性的成分,并導致 SF6 氣體絕緣特性不符合要求從而產生火弧造成電力設備損壞。因此,監測 SF6 中的水汽含量是否超標尤為重要,冷鏡式露點儀具備一定的抗腐蝕性可以滿足要求。在氣象環境等各類領域,需考慮紫外線、高溫、低溫、高濕、非常規的化學物質、壓力等因素對濕度測量儀器的影響。這些因素制約了普通濕敏材料類傳感器的應用,而光學冷鏡式露點儀可以避免這些因素的干擾并確保測量數據的穩定性和精度。