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2025
07-032025
06-242025
06-242025
06-242025
06-132025
06-13解鎖微觀測量新境界：光學3D輪廓儀與共聚焦顯微成像的結合應用
在當今科技飛速發展的時代，眾多行業正朝著精細化、微型化的方向大步邁進。當芯片上的晶體管小到肉眼不可見，當手機攝像頭鏡片需要納米級平整度，傳統測量工具還能扛得住嗎？在這樣的行業大背景下，SuperViewWT3000復合型光學3D表面輪廓儀創新性地集成了白光干涉儀和共聚焦顯微鏡兩種高精度3D測量儀器的性能特點，為微觀測量領域帶來了的變化。集成帶來的測量靈活性飛躍傳統單一測量設備要么精度不足，要么無法兼顧復雜結構。而SuperViewWT3000白光干涉儀+共聚焦顯微鏡雙模式融合，納米級難題迎刃而解2025
06-132025
06-042025
05-262025
05-23wafer晶圓幾何形貌測量系統：厚度(THK)翹曲度(Warp)彎曲度(Bow)等數據測量
晶圓是半導體制造的核心基材，所有集成電路（IC）均構建于晶圓之上，其質量直接決定芯片性能、功耗和可靠性，是摩爾定律持續推進的物質基礎。其中晶圓的厚度（THK）、翹曲度（Warp）和彎曲度（Bow）是直接影響工藝穩定性和芯片良率的關鍵參數：1、厚度（THK）是工藝兼容性的基礎，需通過精密切割與研磨實現全局均勻性。2、翹曲度（Warp）反映晶圓整體應力分布，直接影響光刻和工藝穩定性，需通過退火優化和應力平衡技術控制。3、彎曲度（Bow）源于材料與工藝的對稱性缺陷，對多層堆疊和封裝尤為敏感，需在晶體生2025
05-232025
05-23掃描電鏡：打開微觀世界的“超維相機“，科學家如何用它破解納米謎題？
當你用手機拍攝一朵花的微距照片時，放大100倍已足夠驚艷。但如果告訴你，科學家手中的"相機"能將物體放大百萬倍，連病毒表面的蛋白突觸都清晰可見，你是否會好奇這背后的黑科技？這把打開微觀宇宙的鑰匙，正是掃描電子顯微鏡（SEM）。SEM的"超能力"從何而來？傳統顯微鏡受限于可見光波長，放大極限止步于200納米。而掃描電鏡利用高能電子束作為"探針"，通過電磁透鏡操控電子軌跡，突破衍射極限，分辨率可達1納米以下。CEM3000掃描電鏡桌面化設計讓實驗室“去中心化”。其70000倍成像能力，可在咖啡杯旁完2025
05-23精度不夠？PLR3000光纖激光尺：0.2ppm誤差解鎖微米級制造
當“精度焦慮”成為制造業的隱形門檻：在半導體光刻中，1nm偏差可能導致整片晶圓報廢；在精密機床加工中，熱變形讓傳統測量工具“失靈”……“高精度、高穩定、抗干擾”——工業超精密制造的三大痛點，如何破局？PLR3000系列光纖激光尺基于激光干涉測量原理，具有更加精確的柵距和更高的分辨率，同時其熱源隔離設計，保證了更高的穩定性，同時具有安裝快捷，易于準直等特點，在微電子、微機械、微光學等現代超精密加工制造、光刻技術等高科技領域廣泛應用。核心優勢1、高精度分辨率10nm（可拓展），線性測量精度0.2pp2025
05-21激光跟蹤儀為生命護航：X射線計算機斷層掃描成像系統檢測的應用
行業背景概述：X射線計算機斷層掃描成像系統，簡稱CT。近年來，全球CT市場展現出穩健的擴張態勢。在亞太地區，伴隨各國對醫療基礎設施建設的持續投入，以及人口老齡化程度的加深，CT設備迎來了爆發式的市場需求。與此同時，多層螺旋CT、能譜CT等一系列前沿技術相繼問世，不僅極大提升了CT設備的性能，也進一步拓展了應用場景，有力推動了市場規模的持續增長。需求描述：CT設備的安裝與校準、質量控制與檢測、運動部件檢測。當前檢測手段的不足或用戶痛點：1、部件安裝幾何精度把控難題：現階段，CT設備生產和檢測主要依2025
05-152025
05-122025
05-082025
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04-242025
04-18掃一掃訪問手機商鋪
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