深圳鼎極天有限公司
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CMI760可用于測量表面銅和穿孔內銅厚度，帶溫補功能。采用微電阻和電渦流方式測量表面銅和孔內鍍銅厚度。具有多功能性、高擴展性和*的統計功能，統計功能用于數據整理分析。
CMI 760配置包括：
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選配配件：
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SRP-4面銅探頭測試技術參數：
銅厚測量范圍：
線性銅線寬范圍：203μm - 7620μm（8mil - 300mil）
準確度：±1%（±1μm）參考標準片
精確度：化學銅：標準差0.2%，電鍍銅：標準差0.3%
分辨率：0.1μm≥10μm，0.01μm＜10μm，0.001μm＜1μm，0.01mils≥1mil，0.001mils＜1mil
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ETP孔銅探頭測試技術參數：
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主機規格：
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