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全反射 X 射線熒光光譜儀表面污染計量測量離散點的元素污染或使用完整的晶圓圖

Rigaku 的 ZSX Primus 400 連續波長色散 X 射線熒光 (WDXRF) 光譜儀專為處理非常大或重的樣品而設計。

日本理學全反射 X 射線熒光光譜儀TXRF-V310通過 VPD-TXRF 進行晶圓表面污染測量超痕量元素表面污染的測量

理學臺式X射線衍射儀系統將重新定義你所認為的X射線衍射儀方式。

波長色散X射線熒光光譜儀WDA-3650用于薄膜評估的X射線熒光分析儀同時對各種薄膜的薄膜厚度和成分進行無損、非接觸式分析

日本理學SmartLab帶制導軟件的自動多用途X射線衍射儀（XRD）粉末衍射、薄膜計量、SAXS、面內散射、操作測量

日本理學同步熱分析儀DSC8231測量體重變化和吸熱或放熱反應

差示掃描量熱儀DSC8231差示掃描量熱法（DSC）量化熔化、轉變、結晶和玻璃化轉變溫度等反應中的能量變化，主要用于研發;以及聚合物、制藥領域的質量控制。

蔡司FIB雙束掃描電鏡Crossbeam 350結合了高分辨率場發射掃描電鏡（FE-SEM）的出色成像和分析性能，以及新一代聚焦離子束（FIB）的優異加工能力。

蔡司FIB雙束掃描電鏡Crossbeam 550結合了高分辨率場發射掃描電鏡（FE-SEM）的出色成像和分析性能，以及新一代聚焦離子束（FIB）的優異加工能力。

應用于X射線熒光光譜儀配用的壓片機作為壓樣模具。

德國蔡司 MultiSEM 研究合作計劃速度非凡的掃描電子顯微鏡

雷泰MI3紅外溫度傳感器代表在連續非接觸式溫度監測的新一代的性能和創新，并廣泛應用于OEM應用和制造工藝中。

Pure色譜儀非常的緊湊，確保的安全性并且易于應用在Flash快速分離和HPLC樣品制備中。

Chroma 3650可在一個測試頭中，提供最多512 個數位通道，并具備高產能的平行測試功能， 可同時測試32 個待測晶片，以提升量產效能。

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雷泰MP150紅外行掃描儀是專為使用在高要求的工業環境中使用，并可以測得運動物體的準確溫度圖像。

Raytek® Raynger 3i Plus 高溫手持式紅外測溫儀設計用于滿足眾多工業應用中的過程性能要求，包括原生和再生金屬加工以及石化和發電廠運行...

40 多年來，日本理學Simultix 15波長色散X射線熒光光譜儀系統已被廣泛用作需要高吞吐量和精度的行業（例如鋼鐵和水泥）過程控制的元素分析工具

AGS-X系列試驗機采用主機與控制裝置一體化結構，占地面積小，是操作簡便的小型化電子試驗機。該系列機已經取得國際CE認證，是目前業內性價比較高的試驗機。