SoC測試系統主要特色：

50/100MHz測試工作頻率
512個 I/O 通道(I/O Channel)
16M (32M Max.) Pattern 記憶體(Pattern Memory)
Per-Pin 彈性資源架構
32 DUTS 平行測試功能
ADC/DAC 測試功能
硬體規則模式產生器(Algorithmic Pattern Generator)
BIST/DFT掃描鏈(Scan Chain)測試模組選項
好學易用的 Windows XP 作業環境
每片 VI45 類比單板可支援8~32通道
每片 PVI100 類比單板可支援2~8通道
彈性化的 MS C/C++ 程式語言
即時pattern編輯器，含Fail pin/address顯示
測試程式/測試pattern轉換軟體(J750, SC312)
多樣化測試分析工具 : Shmoo plot,Waveform display, Wafer Map, Pin Margin,Scope tool, Histogram tool等等

實惠的VLSI和消費性混合信號晶片產品的測試方案

平行測試功能 
Chroma 3650 SoC測試系統可在一個測試頭中，提供最多512 個數位通道，并具備高產能的平行測試功能， 可同時測試32 個待測晶片，以提升量產效 能。在Chroma 3650中，每片單一的LPC板擁有 64個數位通道，并結合具備高效能基礎的Pin Function (PINF) IC，每一顆 PINF IC 具備4 個數 位通道的時序產生器，以提供50ps 以內的精準 度。

彈性化架構 
雖然半導體產業是一個變化快速的產業，但其 資產設備應建立在可符合長時間需求的設備之 上。Chroma3650在設計其架構時，應用* 的規劃，具備AD/DA轉換器測試模組、ALPG記 憶體測試模組、高電壓PE輸出模組和多重掃描 鏈測試模組等等選配，以確保符合未來多年的 測試需求。

CRISP (軟體測試環境) 
架構在Windows XP作業系統上的Chroma 3650的 軟體測試環境CRISP(Chroma Integrated Software Plat form)，是一個結合工程開發與量產需求 的軟體平臺。主要包含四個部份 : 執行控制模 組、資料分析模組、程式除錯模組以及測試機 臺管理模組。透過親切的圖形人機介面的設 計，CRISP提供多樣化的開發與除錯工具，包含 :Shmoo plot、Waveform tool、Scope tool、Pin Margin、Pattern Editor與Plan Debugger 等軟體 模組，可滿足研發/測試工程師開發程式時的需 求 ; 此外，Histogram tool 可用于重復任一測試 參數，包含時序、電壓、電流等，以評估其測試 流程之穩定度。

在量產工具的部份，透過特別為操作員所設計 的OCI (Operator Control Interface)量產平臺，生 產人員可輕易地控制每個測試階段。它提供產品 導向的圖形介面操作，用來控制 Chroma 3650 SoC測試系統、 晶圓針測機和送料機等裝置溝通。程式設計者 可先行在Production Setup Tool視窗之下設定OCI 的各項參數，以符合生產環境的需求。而操 作員所需進行的工作，只是選擇 程式設計者已規劃好的流 程，即可開始量產，大幅 降低生產線上的學習的時 間。

價位的測試解決方案 
要配合現今功能日趨復雜的IC晶片，需要具備功 能強大而且多樣化的測試系統。為了達成具成本 效益的測試解決方案，必須藉由降低測試時間和 整體成本來達成，而非只是簡單地減少測試系統 的價格而已。Chroma 3650 SoC測試系統的設計即是可適用于 所有類型的應用環境，例如 : 工程驗證、晶圓測 試和成品測試。周邊設備。 Chroma 3650支援多種裝置的驅動程式介面 (TTL& GPIB ) ，可進行與晶圓針測機和送料機， 包括 SEIKO-EPSON、SHIBASOKU、MULTI-TEST、 ASECO、DAYMARC、TEL、TSK、OPUS II等等裝 置之間的溝通。

應用支援 
不管是新客戶或是現有客戶，Chroma 均提供廣 泛的應用支援，以確保所有的設計皆能精準地符 合使用者的需求。不管使用者要快速提升生產 量、把握新興市場的機會、提高生產力、以創新 策略降低測試成本、或在尖峰負載情況下增加容 量，Chroma 位于的客服支援人員皆會竭盡 所能提供客戶即時解有效率的解決方案。