美國(guó)麥克細(xì)微顆粒分析儀器培訓(xùn)廣州站成功舉行
2009-06-08 來(lái)源：網(wǎng)絡(luò) 點(diǎn)擊量：305
由美國(guó)麥克儀器
公司與中山大學(xué)化學(xué)與化工學(xué)院材料研究所攜手舉辦的“細(xì)微顆粒分析儀器的應(yīng)用原理及技術(shù)指導(dǎo)專題培訓(xùn)講座”已經(jīng)圓滿結(jié)束。此次講座由美國(guó)麥克儀器公司總部研發(fā)專家Dr.Tony Thornton（兼國(guó)際細(xì)微顆粒分析協(xié)會(huì)主席）主講，得到了廣大用戶的支持。
會(huì)議期間，我們主要針對(duì)物理吸附/化學(xué)吸附/高壓吸附/程序升溫技術(shù)/粒度分布等方面的內(nèi)容進(jìn)行了深入的討論。
| 許多用戶也針對(duì)使用過(guò)程中遇到的問(wèn)題于專家進(jìn)行的深入的交流，得到了很好的效果 |
為了使大家更好的了解當(dāng)天講解的詳細(xì)內(nèi)容，我們現(xiàn)在向大家免費(fèi)發(fā)放會(huì)議當(dāng)天的幻燈片，以便大家深入研究。如果哪位用戶需要，請(qǐng)聯(lián)系美國(guó)麥克儀器公司上海辦事處021-62179180索取。
版權(quán)與免責(zé)聲明：
①凡本網(wǎng)注明"來(lái)源：儀表網(wǎng)"的所有作品，版權(quán)均屬于儀表網(wǎng)，轉(zhuǎn)載請(qǐng)必須注明儀表網(wǎng)，。違反者本網(wǎng)將追究相關(guān)法律責(zé)任。
②本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其它來(lái)源的作品，目的在于傳遞更多信息，并不代表本網(wǎng)贊同其觀點(diǎn)或證實(shí)其內(nèi)容的真實(shí)性，不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個(gè)人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時(shí)，必須保留本網(wǎng)注明的作品來(lái)源，并自負(fù)版權(quán)等法律責(zé)任。
③如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問(wèn)題，請(qǐng)?jiān)谧髌钒l(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系，否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。
服務(wù)咨詢：
