X-Strata920 優質X射線測厚儀
儀器介紹
X-Strata920鍍層測厚儀：又稱X射線熒光鍍層測厚儀，是能量色散X射線熒光（EDXRF）技術的大型臺式測厚儀，是牛津儀器CMI900系列鍍層測厚儀的升級產品，將取代CMI900系列產品。能進行非破壞、非接觸，快速無損測量，在10秒內得出測量結果，可進行多層合金測量，具有高生產力優點，是質量管理、成本節約有力的檢測工具。
適用范圍
用于電子元器件、半導體、PCB、FPC、LED支架、連接器、端子、衛浴潔具、五金件、汽車零部件、首飾飾品、裝飾件、功能性電鍍……多個行業表面鍍層厚度的測量；
測量鍍層，金屬涂層，薄膜的厚度或液體（鍍液的成分分析）組成。
主要特點
進行貴金屬檢測，如Au karat評價；
材料鑒別和分類檢測，材料和合金元素分析，元素光譜定性分析；
測量精度高、穩定性好，測量結果精確至μin；
強大的數據統計、處理功能，測量結果輸出多樣化；
擁有NIST認證的標準片；
提供服務及。
測量精度
膜厚范圍 | *層（zui上層） | 第二層 | 第三層 |
小于0.5 µm （20 µin） | 1 µin 或更好 | 2 µin 或更好 | 3 µin 或更好 |
大于0.5 µm | 5% 或更好 | 10% 或更好 | 15% 或更好 |
含量 | *層 | 第二層 |
1--99 wt % | | 3 wt % 或更好 |
工作原理
對被測樣品發射一束一次X射線，樣品的原子吸收X射線的能量后被激發并釋放出二次X射線。每個化學元素會釋放出特定能量的X射線。通過測量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強度，X射線分析儀就能夠對被測材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析。
測厚范圍
取決于鍍層的具體應用。
優質X射線測厚儀
技術參數
項目名稱 | 具體描述 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
X射線激發系統 | ·垂直下照式X射線光學系統 ·50W（50kV，1.0mA）空冷式微聚焦型鎢W靶X射線管 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
準直器系統 | ·單準直器組件； ·多準直器自動控制組件：zui多可同時裝配6種規格的準直器 ·園形、正方形、矩形和多種規格尺寸準直器任選（紅色為常用的）：
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測量斑點尺寸 | 在12.7mm聚焦距離時，zui小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm（使用0.025 x 0.05 mm<即1x2mil>準直器） | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
樣品室 | 開槽式樣品室，測量大型平板樣品，如尺寸大于儀器寬度的線路板 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
樣 品 臺 |
固定樣品臺 ·Z軸自動控制，移動行程：43mm （1.7"），XY軸手動控制 ·zui大樣品高度33mm ·儀器外形尺寸（寬×深×高）：407×770×305mm（16×30.3×12"） | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
加深樣品臺 ·Z軸自動控制，移動行程：43mm （1.7"），XY軸手動控制 ·zui大樣品高度160mm ·樣品倉有4個位置卡槽，相鄰卡槽垂直間距25.4mm，樣品臺支架可放置在不同位置的卡槽上，可測不同高度的樣品 ·樣品倉內部尺寸（寬×深×高）：279×508×152mm（11×20×6”） ·儀器外形尺寸（寬×深×高）：407×770×400mm（16×30.3×15.7"） ·自定義樣品臺：依據客戶要求提供更高的樣品臺，滿足高度＞160mm的樣品測量，倉內設置多個位置卡槽，相鄰卡槽垂直間距25.4mm
自動樣品臺 ·Z軸自動控制，移動行程：43mm（1.7"） ·XY軸自動控制，樣品臺移動行程：178×178mm（7x7”） ·zui大樣品高度33mm ·樣品臺尺寸（寬×深）：610×560mm（24×22”） ·儀器外形尺寸（寬×深×高）：610×1037×375mm（24×40.8×14.8"） ·可提供對樣品的自動和編程控制，多點測量 ·鼠標控制樣品臺移動，精確地定位樣品測量點 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
鐳射聚焦 |
·單擊鼠標，Z軸自動掃描 ·Z軸自動聚焦到焦距12.7mm，同時將樣品圖像定焦（顯示在屏幕上） ·避免了人為操作誤差 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
樣品觀察系統 | ·高分辨率彩色CCD觀察系統，標準光學放大倍數為30倍 ·可選50倍和100倍觀察系統 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
結果輸出 | ·測量數據報告可直接打印或一鍵導出到PDF文件、Excel文件，為質量管理保留寶貴的原始資料 ·測量數據報告可包含測量數據、測量樣品圖像、各種統計分析圖表、自定義的報告模板（系統預置模板、含用戶信息的自制模板） | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
計算機系統配置 | ·IBM計算機 ·佳能彩色噴墨打印機 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
分析應用軟件 | ·操作系統：Windows XP中文平臺 ·分析軟件包：SmartLink FP軟件包 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
系統安全性 | ·Z軸保護傳感器 ·安全防射線光閘 ·樣品室門開閉傳感器 ·X射線鎖 ·X射線警示燈 ·緊急停止按鈕 ·前面板安全鈕和后面板安全鎖 ·多用戶密碼保護，只向日常操作員設定有限的*，操作界面簡單，功能受限 ·主管人員可進行系統維護
·開啟“自動鎖定”功能可以防止未*人員使用；測量結束后，超過預設的時*，軟件鎖定并要求輸入密碼 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
測量自動化功能 | 鼠標激活測量模式：“Point and Shoot” | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、重復測量模式 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
測量位置預覽功能 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
激光對焦和自動對焦功能 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
統計計算功能 | 平均值、標準偏差、相對標準偏差、zui大值、zui小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
任選軟件：統計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
數據分組、X-bar/R圖表、直方圖 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
數據庫存儲功能 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
