MAXXI 6

XRF鍍層測厚儀提供高性能、快速可靠無損的鍍層厚度測量及材料分析，確保產品質量的*性和高品質。

• 高分辨率的硅漂移器（SDD）
• 開槽式超大樣品艙設計
• 8個準直器
• USB接口與計算機連接

我們的鍍層測厚儀是基于X射線熒光光譜分析技術，該技術已被普遍認可并且得到廣泛應用，可以在無需樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無損的分析。

XRF鍍層測厚儀配備多準直器系統及超大樣品艙，針對較薄而復雜的樣品，具有*的解決方案。MAXXI 6 可分析固體和液體，元素范圍包括從元素周期表中的¹³Al到⁹²U。

亮點

• 采用微聚焦X射線光管，實現高精度、高可靠性、測量時間短、購置成本低
• 采用高分辨率的硅漂移探測器（SDD），提供能量級別的*效率，極低的檢出限（LOD）
• 多準直器可優化不同尺寸樣品熒光信號產額，提高測量效率
• 開槽式超大樣品艙設計，十分適合電路板或其他超大平板樣品
• “USB接口”只需通過USB與計算機連接，無需額外的硬件或軟件
• 德國制造，符合zui高工程標準，堅固耐用的設計可實現*可靠性
• 通過PTB（Physikalisch Technische Bundesanstalt）認證，滿足zui高輻射安全標準

XRF鍍層測厚儀性能及符合性

• zui多同時測定5層，15種元素及共存元素的校正

• 同時實現多于25種元素的定量分析

• 檢測方法通過ISO 3497, ASTM B568, DIN 50987和IEC 62321等認證

開槽式大樣品臺

• 可編程的XY樣品臺
• 樣品腔體積：500 × 450 × 170 mm
• 創新的防撞設計

可編程的樣品臺

• 預定位激光技術
• zui大化的樣品臺行程范圍及速度
• 自動測量

XRF鍍層測厚儀軟件及校準

• 基于WindowsTM 7操作系統，直觀的軟件MaxxControl
• 選擇經驗校準以實現zui大準確性或選擇FP無標樣模式以輕松實現校準
• 成分分析：可自由選擇元素；厚度測量：可自定義鍍層結構
• 對RoHS和貴金屬進行工廠預裝校準（可選）